测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:06-19 2023 来自:祥宇精密
在使用仪器进行测量时,我们常常会遇到测量误差的情况。这是因为任何一种测量方法都无法完全避免误差的产生,即使是最先进的仪器也不例外。那么,仪器方面的测量误差来源于哪些方面呢?本文将从以下三个方面进行讲解。
一、仪器本身的误差
仪器本身的误差是指由于制造工艺、设计或使用寿命等原因导致的误差。这种误差通常是由仪器的制造商进行测试和估算得出的,可以用来评估仪器的精度和可靠性。在实际使用中,我们需要了解仪器的误差大小和范围,以便在测量过程中进行相应的修正。例如,在使用数字万用表进行电阻测量时,我们需要对其内部电阻进行校准,并且考虑到温度、湿度等环境因素的影响。
二、操作人员的误差
除了仪器本身的误差外,操作人员的误差也是导致测量误差的重要原因之一。操作人员的误差可能来自于测量方法、测量环境以及个人经验等方面。例如,在使用显微镜进行物体尺寸的测量时,操作人员需要适当地调节焦距和观察角度,同时还要考虑到光线的影响,这些都可能导致误差的产生。因此,操作人员需要具备一定的专业知识和技能,才能减少其自身带来的误差。
三、测量环境的误差
测量环境的误差是指由于环境因素,如温度、湿度、气压等的影响而引起的误差。这些环境因素都可能会对仪器的精度、稳定性和灵敏度产生影响,从而导致测量结果的误差。例如,在进行重力加速度的测量时,我们需要将仪器放置在水平位置,并且保持恒定的温度和湿度,以减小环境误差的影响。
参考文献:
1. 袁志刚, 徐玖成, 王健. 测量误差及其消除[M]. 北京: 机械工业出版社, 2005.
2. 林振平. 误差理论与数据处理[M]. 北京: 科学出版社, 2010.
3. 熊光明. 误差分析与实验设计[M]. 北京: 清华大学出版社, 2008.
400-801-9255